ebsd图和tem图的区别,tem和cet区别

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STEM分析图STEM成像不同于平行电子束的TEM,它是利用聚集的电子束在样品上扫描来完成的，与SEM不同之处在于探测器置于试样下方，探测器接收透射电子束流或弹性散射电子束流，经放大后该应用显示，即使TEM可以获得清晰的颗粒赋存状态图，但辅以ebsd后，更可以获得该特征的取向分布，晶界性质等。下图显示经过等通道

EBSD以扫描描电镜(SEM载体，硬件包括三大部分：扫描电子显微镜、电子背散射衍射仪和终端图像处理设备。扫描电镜提供样品室和高能电子束等基本条件；电子背散射衍射分析测试，百科网，EBSD与其他衍射技术的比较，BSD与其他衍射技术的比较X射线衍射或中子衍射不能进行点衍射分析。除了EBSD外，还有其他的点分析技术，主要有SEM中

但是EBSD则可以根据应变程度来计算大小角晶界，从而得到再结晶的结果。另外，透射可以直接看到位错等亚结构，是研究再结晶的有力表征手段。接下来，笔者为大家解析一些EBSD和TEM照片。EBSD是X射线衍射和TEM进行取向和相分析的补充，具有制样相对简单、微区、快速的特点。1EBSD花样的形成当入射电子束在样品中发生非弹性散射时，在晶体内沿空间所有方向发射散射电子束。散射束的强

EBSD 全称电子背散射衍射技术，是用于在扫描电子显微镜内进行毫米级到纳米级定量微观组织分析的技术。扫描电镜扫描电子显微镜(SEM) 是一种用于高分辨率微区形貌分析的大型精密仪与TEM 相比，t -EBSD 技术既能满足纳米尺度显微晶体结构及织构的分析，同时由于其采用的是SEM 中的EBSD 系统的硬件及软件分析系统，故其所分析的面积较TEM大大提高

＞﹏＜ 总体介绍现任领导机构设置校史文化校园地图组织机构学院研究院人才培养本科生教育研究生教育国际教育远程与继续教育科学研究国家级重点科研基地教育部重点科TEM只被推荐用于低于EBSD的分辨率极限(即小于0.1)的取向测量，也就是纳米(nm)多晶材料和严重变形的结构。因此，EBSD是X射线衍射和透射电子显微镜进行取向和相分