EBSD可以分析相面积,电力系统分析等面积定则

EBSD可以分析相面积,电力系统分析等面积定则

EBSD 数据来自样品表面下10-50nm 厚的区域，且EBSD样品检测时需要倾转70°,为避免表面高处区域遮挡低处的信号，所以要求EBSD样品表面清洁、平整、具有良好的导电用OIM软件打开需要分析的EBSD数据，在项目树中用鼠标右键单击all data分区，选择new→map。02 在弹出的

＞﹏＜ 能谱及EBSD的超大面积面分布分析-最新应用，color=#3e3e3e][back=#f8f7f5]牛津仪器最新推出的AZtecLAM(Large Area Mapping )可左图可以与标准图对比，有两种类型织构：黄铜织构(Br){110} <112> 欧拉角[55°90°45°] 反高斯织构(RG){110} <110> 欧拉角[0°90°45°]既然EBSD可以进行微织构，那么就可以进行织构

≡(▔﹏▔)≡ 3)应变分析，包括应变分布和再结晶分数等。EBSD分析技术的特点如下：1)高精度的晶体结构分析功能；2)独特的晶体取向分析功能；3)样品制备相对简单；4)分析速度同等测试面积下，较之EBSD法，CIP法的分析时长成倍增加。大约在21世纪初，飞行时间中子衍射质谱分析(TOF, time-of-flight neutron transmission diffraction)由材料学领域引入岩石组构

结晶学分析单晶体的完整性微电子内连使用期间的可靠性断口面的结晶学高温超导体沿结晶方向的氧扩散形变研究薄膜材料晶粒生长方向测量ebsd测量的是样品中每一点的取向那么不同答：织构和取向差分析；晶粒尺寸及形状分布分析；晶界、亚晶及孪晶界性质分析；应变和再结晶的分析；相签定及相比计算等，EBSD对很多材料都有多方面的应用也就是源于

EBSD 的空间分辨率一般为0.5μm 左右，若安装在场发射扫描电镜上时，空间分辨率可以小于10 nm。因此，用EBSD 可以测定nm 晶粒的取向。在高放大倍数下测定的织构常被称为微区织构。A:EBSD是按每个像素点的信息计算的晶粒大小。它的误差主要是测试结果的可信度和合适的测试面积。如果制样特别好，测试结果CI值都>0.1。然后测试面积足够大，测试步长足够小。那么，计算结果就是测试